Yang W. Lee, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk
Yang W. Lee, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk(1)
2017(1)
Informatik, EDV(1)
eBook(1)
English(1)
The MIT Press(1)
1-1 1
1-1 1
Journey to Data Quality Journey to Data Quality
: Yang W. Lee, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk   
: 9780262256544   
: The MIT Press   
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