Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer
Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer(1)
2012(1)
Maschinenbau, Fertigungstechnik(1)
eBook(1)
English(1)
Springer-Verlag(1)
1-1 1
1-1 1
Atom Probe Microscopy Atom Probe Microscopy
: Baptiste Gault, Michael P. Moody, Julie M. Cairney, Simon P. Ringer   
: 9781461434368   
: Springer-Verlag   
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